设为首页
网站地图
ENGLISH
首 页
关于我们
产品中心
品牌介绍
新闻中心
技术中心
维修中心
联系我们
欢迎来到华丰科技,主要产品有
色差仪
超声波测厚仪
硬度计
光泽仪 涂层测厚仪 其他物理检测仪器...
标签
新一代SIDSP数字化探头技术在涂层测厚仪中的应用
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的,世界领先的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
类别:
测厚研究
作者:
HF
日期:
2011-07-24 22.29.01
点击:
196
评论:
0
总数:1
1
页次:1/1
随机标签
硬度计应用
保修期延长
磨卡水砂纸
德国EPK公司
精磨砂棉
在线色差仪
大促销
博物馆
小孔光泽度仪
档案馆
小孔光泽仪
经济型色差仪
粘度计
单角度光泽仪
可测绝对值小型色…
英国Rhopoint
表面色差仪
模具温度
热门标签
Mirka
sph900
AFFRI
ColorLite
BYK
affri硬度计
色差仪
涂层测厚仪
维氏硬度计
MINITEST
光泽仪
超声波测厚仪
Mirka打磨机
测厚仪
磨耗仪
德国超声波测厚仪…
自吸式打磨机
Bareiss